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Navegando Artigos por Autor "ADDED, NEMITADA"
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Artigo Reducing soft error rate of socs analog-to-digital interfaces with design diversity redundancy(2019-11-11) GONZALEZ, CARLOS J.; ADDED, NEMITADA; MACCHIONE, EDUARDO L. A.; AGUIAR, VITOR A. P.; KASTENSMIDT, FERNANDA L.; PUCHNER, HELMUT K.; GUAZZELLI, Marcilei Aparecida; MEDINA, NILBERTO H.; BALEN, TIAGO R.Neste artigo, um system-on-chip programável comercial (PSoC 5, da Cypress Semiconductor) é testado sob irradiação de íons pesados com foco nos blocos de interface analógico-digital do sistema. Para tanto, um sistema de aquisição de dados (DAS) foi programado no dispositivo em teste e protegido com uma técnica de redundância de diversidade de projeto. Esta técnica implementa diferentes níveis de diversidade (arquitetural e temporal) usando duas arquiteturas diferentes de conversores (um conversor ΣA e dois conversores de registro de aproximação (SAR) sucessivos) operando com taxas de amostragem distintas. O experimento foi realizado em uma câmara de vácuo, utilizando um feixe de íons de 16 O com energia de 36-MeV e penetração suficiente no silício para produzir uma transferência de energia linear efetiva (LET) de 5,5 MeV / mg / cm 2 na região ativa. O fluxo médio foi de cerca de 350 partículas / s / cm 2 para 246 minutos. A susceptibilidade individual de cada conversor aos efeitos de evento único é avaliada, bem como a seção transversal do sistema inteiro. Os resultados mostram que a técnica proposta é eficaz para mitigar erros originados nos conversores, uma vez que 100% dos erros foram corrigidos pela técnica de redundância de diversidade. Os resultados também mostram que a unidade de processamento do sistema é suscetível a travamentos que podem ser mitigados usando técnicas de watchdog.