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Navegando Artigos por Autor "AGUIAR, VITOR A. P."

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    Artigo
    Evaluating Soft-Core RISC-V processor in SRAM-based FPGA under radiation effects
    (2020) OLIVEIRA, ÁDRIA B. DE; TAMBARA, LUCAS A.; BENEVENUTI, FABIO; BENITES, LUIS A. C.; ADDED, NEMITALA; AGUIAR, VITOR A. P.; MEDINA, NILBERTO H.; GUAZZELLI, Marcilei Aparecida; KASTENSMIDT, FERNANDA L.
    Abstract— This article evaluates the RISC-V Rocket processor embedded in a Commercial Off-The-Shelf (COTS) SRAM-based field-programmable gate array (FPGA) under heavy-ionsinduced faults and emulation fault injection. We also analyze the efficiency of using mitigation techniques based on hardware redundancy and scrubbing. Results demonstrated an improvement of 3× in the cross section when scrubbing and coarse grain triple modular redundancy are used. The Rocket processor presented analogous sensitivity to radiation effects as the state-ofthe-art soft processors. Due to the complexity of the system-onchip, not only the Rocket core but also its peripherals should be protected with proper solutions. Such solutions should address the specific vulnerabilities of each component to improve the overall system reliability while maintaining the trade-off with performance
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    Artigo
    Reducing soft error rate of socs analog-to-digital interfaces with design diversity redundancy
    (2019-11-11) GONZALEZ, CARLOS J.; ADDED, NEMITADA; MACCHIONE, EDUARDO L. A.; AGUIAR, VITOR A. P.; KASTENSMIDT, FERNANDA L.; PUCHNER, HELMUT K.; GUAZZELLI, Marcilei Aparecida; MEDINA, NILBERTO H.; BALEN, TIAGO R.
    Neste artigo, um system-on-chip programável comercial (PSoC 5, da Cypress Semiconductor) é testado sob irradiação de íons pesados ​​com foco nos blocos de interface analógico-digital do sistema. Para tanto, um sistema de aquisição de dados (DAS) foi programado no dispositivo em teste e protegido com uma técnica de redundância de diversidade de projeto. Esta técnica implementa diferentes níveis de diversidade (arquitetural e temporal) usando duas arquiteturas diferentes de conversores (um conversor ΣA e dois conversores de registro de aproximação (SAR) sucessivos) operando com taxas de amostragem distintas. O experimento foi realizado em uma câmara de vácuo, utilizando um feixe de íons de 16 O com energia de 36-MeV e penetração suficiente no silício para produzir uma transferência de energia linear efetiva (LET) de 5,5 MeV / mg / cm 2 na região ativa. O fluxo médio foi de cerca de 350 partículas / s / cm 2 para 246 minutos. A susceptibilidade individual de cada conversor aos efeitos de evento único é avaliada, bem como a seção transversal do sistema inteiro. Os resultados mostram que a técnica proposta é eficaz para mitigar erros originados nos conversores, uma vez que 100% dos erros foram corrigidos pela técnica de redundância de diversidade. Os resultados também mostram que a unidade de processamento do sistema é suscetível a travamentos que podem ser mitigados usando técnicas de watchdog.