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2016Analysis of SRAM-Based FPGA SEU Sensitivity to Combined EMI and TID-Imprinted EffectsVARGAS, FABIAN; BENFICA, J.; POEHLS, L. B.; HARO, M. S.; GUAZZELLI, Marcilei Aparecida; MEDINA, N. H.; ADDED, N.; V. A. P. Aguiar; BEZERRA, E. A.; LIPOVETZKY, J.; BLOSTEIN, J.; SIDELNIK, I.
2013Brazilian facilities to study radiation effects in electronic devicesMEDINA, N. H.; Santos, R. B. B.; SEIXAS, L. E.; TABACNIKS, M. H.; SILVEIRA, M. A. G.; ADDED, N.; AGUIAR, V. A. P.; AGUIRRE, F.; GIACOMINI, R.; MACCHIONE, E. L. A.; DE MELO, M. A. A.; OLIVEIRA, J. A.
2012Comparative study of the proton beam effects between the conventional and Circular-Gate MOSFETsCirne, K.; Seixas, L.E.; de Lima, J.A.; Silveira, M.A.G.; Santos, R.B.B.; Gimenez, S.P.; Barbosa, M.D.L.; Tabacniks, M.H.; ADDED, N.; Medina, N.H.; De Melo, W.R.
2018Elemental mapping of large samples by external ion beam analysis with sub-millimeter resolution and its applicationsSILVA, T.F.; ALLEGRO, P.R.P.; CAMPOS, P.H.O.V.; RESTREPO, J.M.; TRINDADE, G.F.; ANTONIO, M.R.; ASSIS, R.F.; LEITE, A.R.; RODRIGUES, C.L.; ADDED, N.; RIZZUTTO, M.A.; TABACNIKS, M.H.; MANGIAROTTI, A.; CURADO, J.F.; AGUIRRE, F.R.; AGUERO, N.F.
2014Experimental setup for Single Event Effects at the São Paulo 8UD Pelletron AcceleratorV. A. P. Aguiar; ADDED, N.; Medina, N.H.; MACCHIONE, E.L.A.; AGUIRRE, F.; M. H. Tabacniks; SILVEIRA, M. A. G.; R. B. B. Santos; L. E. Seixas Junior
2016Experimental Setups for Single Event Effect StudiesMedina, N. H.; Porcher, B.; AGUIAR, VITOR A. P.; ADDED, N.; AGUIRRE, F. R.; MACCHIONE, E. L. A.; Alberton, S.G.; SILVEIRA, M. A. G.; Guazzelli, Marcilei A.; Benfica, J.; VARGAS, FABIAN
2012Performance of electronic devices submitted to X-rays and high energy proton beamsSilveira, M.A.G.; Melo, W.; de Lima, J.A.; Cirne, K.H.; Santos, R.B.B.; Gimenez, S.P.; Medina, N.H.; ADDED, N.; Tabacniks, M.H.; Barbosa, M.D.L.; Seixas, L.E.