Back-Biased Undoped Nanowire-Based FETs in Silicon-On-Insulator Substrates with Nanometric Thicknesses

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Tipo de produção
Artigo
Data
2018
Autores
NEMER, Juliana P.
PUYDINGER, M.
DINIZ, José Alexandre
PAVANELLO, Marcelo A.
Orientador
Periódico
Journal of Nanoelectronics and Optoelectronics
Título da Revista
ISSN da Revista
Título de Volume
Citação
NEMER, Juliana P.; PUYDINGER, M.; DINIZ, José Alexandre; PAVANELLO, Marcelo A.. Back-Biased Undoped Nanowire-Based FETs in Silicon-On-Insulator Substrates with Nanometric Thicknesses. Journal of Nanoelectronics and Optoelectronics, v. 13, p. 178-182, 2018.
Texto completo (DOI)
Palavras-chave
Resumo

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