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Title: Estudo dos efeitos da depleção do silício policristalino e da corrente de tunelamento em capacitores MOS
Authors: SONNENBERG, V.
RODRIGUES, M.;Rodrigues, M.;RODRIGUES, MICHELE
MARTINO, João Antonio
Issue Date: 2007
Journal: Boletim Técnico da Faculdade de Tecnologia de São Paulo
ISSN: 1518-9082
Citation: SONNENBERG, V.; RODRIGUES, M.;Rodrigues, M.;RODRIGUES, MICHELE; MARTINO, João Antonio. Estudo dos efeitos da depleção do silício policristalino e da corrente de tunelamento em capacitores MOS. Boletim Técnico da Faculdade de Tecnologia de São Paulo, v. BT/22, p. 5-10, 2007.
Access Type: Acesso Restrito
URI: https://repositorio.fei.edu.br/handle/FEI/1168
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