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DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorSONNENBERG, V.;SONNENBERG, V;Sonnenberg, Victor
dc.contributor.authorRODRIGUES, Michele
dc.contributor.authorMARTINO, João Antonio
dc.date.accessioned2019-08-19T23:45:32Z-
dc.date.available2019-08-19T23:45:32Z-
dc.date.issued2007
dc.identifier.citationSONNENBERG, V.;SONNENBERG, V;Sonnenberg, Victor; RODRIGUES, Michele; MARTINO, João Antonio. Estudo dos efeitos da depleção do silício policristalino e da corrente de tunelamento em capacitores MOS. Boletim Técnico da Faculdade de Tecnologia de São Paulo, v. BT/22, p. 5-10, 2007.
dc.identifier.issn1518-9082
dc.identifier.urihttps://repositorio.fei.edu.br/handle/FEI/1335-
dc.relation.ispartofBoletim Técnico da Faculdade de Tecnologia de São Paulo
dc.rightsAcesso Restrito
dc.titleEstudo dos efeitos da depleção do silício policristalino e da corrente de tunelamento em capacitores MOSpt_BR
dc.typeArtigopt_BR
dc.description.volumeBT/22
dc.description.firstpage5
dc.description.lastpage10
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