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Title: Measurement of critical exponents of diamond films by atomic force microscopy imaging
Authors: SILVEIRA, M. A. G.;M. G. SILVEIRA;M. A. G. SILVEIRA;Silveira, M.A.G.;DA SILVEIRA, MARCILEI A. GUAZZELLI;GUAZZELLI DA SILVEIRA, MARCILEI APARECIDA;SILVEIRA, MARCILEI APARECIDA GUAZZELLI;Marcilei Guazzeli da Silveira;GUAZZELI da SILVEIRA M;GUAZZELI DA SILVEIRA, M.;SILVEIRA, M A G;DA SILVEIRA, MARCILEI APARECIDA GUAZZELLI;da Silveira, M.A.G.;DA SILVEIRA, MARCILEI A. G.;SILVEIRA, MARCILEI A. G.;GUAZZELLI DA SILVEIRA, MARCILEI A.;DA SILVEIRA, M. A. G.;Guazzelli, Marcilei Aparecida;MARCILEI APARECIDA GUAZZELLI;GUAZZELLI, M.A.;Guazzelli, Marcilei A.
SALVADORI, M. C.
CATTANI, M.
Issue Date: 1998
Journal: Physical Review E - Statistical Physics, Plasmas, Fluids and Related Interdisciplinary Topics
ISSN: 1063-651X
Citation: SILVEIRA, M. A. G.;M. G. SILVEIRA;M. A. G. SILVEIRA;Silveira, M.A.G.;DA SILVEIRA, MARCILEI A. GUAZZELLI;GUAZZELLI DA SILVEIRA, MARCILEI APARECIDA;SILVEIRA, MARCILEI APARECIDA GUAZZELLI;Marcilei Guazzeli da Silveira;GUAZZELI da SILVEIRA M;GUAZZELI DA SILVEIRA, M.;SILVEIRA, M A G;DA SILVEIRA, MARCILEI APARECIDA GUAZZELLI;da Silveira, M.A.G.;DA SILVEIRA, MARCILEI A. G.;SILVEIRA, MARCILEI A. G.;GUAZZELLI DA SILVEIRA, MARCILEI A.;DA SILVEIRA, M. A. G.;Guazzelli, Marcilei Aparecida;MARCILEI APARECIDA GUAZZELLI;GUAZZELLI, M.A.;Guazzelli, Marcilei A.; SALVADORI, M. C.; CATTANI, M.. Measurement of critical exponents of diamond films by atomic force microscopy imaging. Physical Review E - Statistical Physics, Plasmas, Fluids and Related Interdisciplinary Topics, v. 58, p. 6814, 1998.
Access Type: Acesso Aberto
URI: https://repositorio.fei.edu.br/handle/FEI/1433
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