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Title: Roughness and critical exponents analysis of diamond films by AFM imaging
Authors: SILVEIRA, M. A. G.;M. G. SILVEIRA;M. A. G. SILVEIRA;Silveira, M.A.G.;DA SILVEIRA, MARCILEI A. GUAZZELLI;GUAZZELLI DA SILVEIRA, MARCILEI APARECIDA;SILVEIRA, MARCILEI APARECIDA GUAZZELLI;Marcilei Guazzeli da Silveira;GUAZZELI da SILVEIRA M;GUAZZELI DA SILVEIRA, M.;SILVEIRA, M A G;DA SILVEIRA, MARCILEI APARECIDA GUAZZELLI;da Silveira, M.A.G.;DA SILVEIRA, MARCILEI A. G.;SILVEIRA, MARCILEI A. G.;GUAZZELLI DA SILVEIRA, MARCILEI A.;DA SILVEIRA, M. A. G.;Guazzelli, Marcilei Aparecida;MARCILEI APARECIDA GUAZZELLI;GUAZZELLI, M.A.;Guazzelli, Marcilei A.
SALVADORI, M. C.
CATTANI, M.
Issue Date: 1999
Journal: Thin Solid Films
ISSN: 0040-6090
Citation: SILVEIRA, M. A. G.;M. G. SILVEIRA;M. A. G. SILVEIRA;Silveira, M.A.G.;DA SILVEIRA, MARCILEI A. GUAZZELLI;GUAZZELLI DA SILVEIRA, MARCILEI APARECIDA;SILVEIRA, MARCILEI APARECIDA GUAZZELLI;Marcilei Guazzeli da Silveira;GUAZZELI da SILVEIRA M;GUAZZELI DA SILVEIRA, M.;SILVEIRA, M A G;DA SILVEIRA, MARCILEI APARECIDA GUAZZELLI;da Silveira, M.A.G.;DA SILVEIRA, MARCILEI A. G.;SILVEIRA, MARCILEI A. G.;GUAZZELLI DA SILVEIRA, MARCILEI A.;DA SILVEIRA, M. A. G.;Guazzelli, Marcilei Aparecida;MARCILEI APARECIDA GUAZZELLI;GUAZZELLI, M.A.;Guazzelli, Marcilei A.; SALVADORI, M. C.; CATTANI, M.. Roughness and critical exponents analysis of diamond films by AFM imaging. Thin Solid Films, v. 345, p. 1, 1999.
Access Type: Acesso Aberto
URI: https://repositorio.fei.edu.br/handle/FEI/1435
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