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dc.contributor.authorSILVEIRA, M. A. G.;M. G. SILVEIRA;M. A. G. SILVEIRA;Silveira, M.A.G.;DA SILVEIRA, MARCILEI A. GUAZZELLI;GUAZZELLI DA SILVEIRA, MARCILEI APARECIDA;SILVEIRA, MARCILEI APARECIDA GUAZZELLI;Marcilei Guazzeli da Silveira;GUAZZELI da SILVEIRA M;GUAZZELI DA SILVEIRA, M.;SILVEIRA, M A G;DA SILVEIRA, MARCILEI APARECIDA GUAZZELLI;da Silveira, M.A.G.;DA SILVEIRA, MARCILEI A. G.;SILVEIRA, MARCILEI A. G.;GUAZZELLI DA SILVEIRA, MARCILEI A.;DA SILVEIRA, M. A. G.;Guazzelli, Marcilei Aparecida;MARCILEI APARECIDA GUAZZELLI;GUAZZELLI, M.A.;Guazzelli, Marcilei A.
dc.contributor.authorSALVADORI, M. C.
dc.contributor.authorCATTANI, M.
dc.date.accessioned2019-08-19T23:47:17Z-
dc.date.available2019-08-19T23:47:17Z-
dc.date.issued1999
dc.identifier.citationSILVEIRA, M. A. G.;M. G. SILVEIRA;M. A. G. SILVEIRA;Silveira, M.A.G.;DA SILVEIRA, MARCILEI A. GUAZZELLI;GUAZZELLI DA SILVEIRA, MARCILEI APARECIDA;SILVEIRA, MARCILEI APARECIDA GUAZZELLI;Marcilei Guazzeli da Silveira;GUAZZELI da SILVEIRA M;GUAZZELI DA SILVEIRA, M.;SILVEIRA, M A G;DA SILVEIRA, MARCILEI APARECIDA GUAZZELLI;da Silveira, M.A.G.;DA SILVEIRA, MARCILEI A. G.;SILVEIRA, MARCILEI A. G.;GUAZZELLI DA SILVEIRA, MARCILEI A.;DA SILVEIRA, M. A. G.;Guazzelli, Marcilei Aparecida;MARCILEI APARECIDA GUAZZELLI;GUAZZELLI, M.A.;Guazzelli, Marcilei A.; SALVADORI, M. C.; CATTANI, M.. Roughness and critical exponents analysis of diamond films by AFM imaging. Thin Solid Films, v. 345, p. 1, 1999.
dc.identifier.issn0040-6090
dc.identifier.urihttps://repositorio.fei.edu.br/handle/FEI/1435-
dc.relation.ispartofThin Solid Films
dc.rightsAcesso Aberto
dc.titleRoughness and critical exponents analysis of diamond films by AFM imagingpt_BR
dc.typeArtigopt_BR
dc.description.volume345
dc.description.firstpage1
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