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Title: A New Test Environment Approach to SEE Detection in MOSFETs
Authors: Luis Eduardo Seixas
SILVEIRA, M. A. G.;M. G. SILVEIRA;M. A. G. SILVEIRA;Silveira, M.A.G.;DA SILVEIRA, MARCILEI A. GUAZZELLI;GUAZZELLI DA SILVEIRA, MARCILEI APARECIDA;SILVEIRA, MARCILEI APARECIDA GUAZZELLI;Marcilei Guazzeli da Silveira;GUAZZELI da SILVEIRA M;GUAZZELI DA SILVEIRA, M.;SILVEIRA, M A G;DA SILVEIRA, MARCILEI APARECIDA GUAZZELLI;da Silveira, M.A.G.;DA SILVEIRA, MARCILEI A. G.;SILVEIRA, MARCILEI A. G.;GUAZZELLI DA SILVEIRA, MARCILEI A.;DA SILVEIRA, M. A. G.;Guazzelli, Marcilei Aparecida;MARCILEI APARECIDA GUAZZELLI;GUAZZELLI, M.A.;Guazzelli, Marcilei A.
Nilberto Medina
AGUIAR, V.A.P.
Nemitala Added
GIMENEZ, S. P.
Issue Date: 2015
Journal: Advanced Materials Research (Online)
ISSN: 1662-8985
Citation: Luis Eduardo Seixas; SILVEIRA, M. A. G.;M. G. SILVEIRA;M. A. G. SILVEIRA;Silveira, M.A.G.;DA SILVEIRA, MARCILEI A. GUAZZELLI;GUAZZELLI DA SILVEIRA, MARCILEI APARECIDA;SILVEIRA, MARCILEI APARECIDA GUAZZELLI;Marcilei Guazzeli da Silveira;GUAZZELI da SILVEIRA M;GUAZZELI DA SILVEIRA, M.;SILVEIRA, M A G;DA SILVEIRA, MARCILEI APARECIDA GUAZZELLI;da Silveira, M.A.G.;DA SILVEIRA, MARCILEI A. G.;SILVEIRA, MARCILEI A. G.;GUAZZELLI DA SILVEIRA, MARCILEI A.;DA SILVEIRA, M. A. G.;Guazzelli, Marcilei Aparecida;MARCILEI APARECIDA GUAZZELLI;GUAZZELLI, M.A.;Guazzelli, Marcilei A.; Nilberto Medina; AGUIAR, V.A.P.; Nemitala Added; GIMENEZ, S. P.. A New Test Environment Approach to SEE Detection in MOSFETs. Advanced Materials Research (Online), v. 1083, p. 197-201, 2015.
Access Type: Acesso Aberto
DOI: 10.4028/www.scientific.net/amr.1083.197
URI: https://repositorio.fei.edu.br/handle/FEI/1477
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