Please use this identifier to cite or link to this item: https://repositorio.fei.edu.br/handle/FEI/440
Title: Estudo comparativo entre tecnologias CMOS, NMOS e SOI em um circuito de APS
Authors: Madeira, Frederico Marion
Advisor: Giacomini, R.
Issue Date: 2012
Keywords: Semicondutores complementares de óxido metálico
Teste de penetração no solo
Publisher: Centro Universitário da FEI, São Bernardo do Campo
URI: https://repositorio.fei.edu.br/handle/FEI/440
Appears in Collections:Teses e Dissertações

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