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2019Reliability calculation with respect to functional failures induced by radiation in TMR arm cortex-M0 soft-core embedded into SRAM-based FPGABenites L.A.C.; Benevenuti F.; De Oliveira A.B.; Kastensmidt F.L.; Added N.; Aguiar V.A.P.; Medina N.H.; Guazzelli M.A.
2018Extraction of natural radionuclides in TENORM waste phosphogypsumMoreira R.H.; Queiroga F.S.; Paiva H.A.; Medina N.H.; Fontana G.; Guazzelli M.A.
2013Dynamic distribution of potassium in sugarcaneMedina N.H.; Branco M.L.T.; Silveira M.A.G.D.; Santos R.B.B.
2012Comparative study of the proton beam effects between the conventional and Circular-Gate MOSFETsCirne K.; Silveira M.A.G.; Santos R.B.B.; Gimenez S.P.; Barbosa M.D.L.; Tabacniks M.H.; Added N.; Medina N.H.; De Melo W.R.; Seixas Jr. L.E.; De Lima J.A.
2012Performance of electronic devices submitted to X-rays and high energy proton beamsSilveira M.A.G.; Cirne K.H.; Santos R.B.B.; Gimenez S.P.; Medina N.H.; Added N.; Tabacniks M.H.; Barbosa M.D.L.; Seixas L.E.; Melo W.; De Lima J.A.
2012High natural radiation in Brazilian sandsSilveira M.A.G.; Medina N.H.; Pereira B.R.; Aguiar V.A.P.
2018The NUMEN project: NUclear Matrix Elements for Neutrinoless double beta decayCappuzzello F.; Agodi C.; Cavallaro M.; Carbone D.; Tudisco S.; Lo Presti D.; Oliveira J.R.B.; Finocchiaro P.; Colonna M.; Rifuggiato D.; Calabretta L.; Calvo D.; Pandola L.; Acosta L.; Auerbach N.; Bellone J.; Bijker R.; Bonanno D.; Bongiovanni D.; Borello-Lewin T.; Boztosun I.; Brunasso O.; Burrello S.; Calabrese S.; Calanna A.; Chavez Lomeli E.R.; D'Agostino G.; De Faria P.N.; De Geronimo G.; Delaunay F.; Deshmukh N.; Ferreira J.L.; Fisichella M.; Foti A.; Gallo G.; Garcia-Tecocoatzi H.; Greco V.; Hacisalihoglu A.; Iazzi F.; Introzzi R.; Lanzalone G.; Lay J.A.; La Via F.; Lenske H.; Linares R.; Litrico G.; Longhitano F.; Lubian J.; Medina N.H.; Mendes D.R.; Moralles M.; Muoio A.; Pakou A.; Petrascu H.; Pinna F.; Reito S.; Russo A.D.; Russo G.; Santagati G.; Santopinto E.; Santos R.B.B.; Sgouros O.; da Silveira M.A.G.; Solakci S.O.; Souliotis G.; Soukeras V.; Spatafora A.; Torresi D.; Magana Vsevolodovna R.; Yildirim A.; Zagatto V.A.B.
2017Analyzing the Influence of the Angles of Incidence and Rotation on MBU Events Induced by Low LET Heavy Ions in a 28-nm SRAM-Based FPGATonfat J.; Kastensmidt F.L.; Artola L.; Hubert G.; Medina N.H.; Added N.; Aguiar V.A.P.; Aguirre F.; Macchione E.L.A.; Silveira M.A.G.
2016Analysis of SRAM-Based FPGA SEU Sensitivity to Combined EMI and TID-Imprinted EffectsBenfica J.; Green B.; Porcher B.C.; Poehls L.B.; Vargas F.; Medina N.H.; Added N.; De Aguiar V.A.P.; Macchione E.L.A.; Aguirre F.; Silveira M.A.G.; Perez M.; Sofo Haro M.; Sidelnik I.; Blostein J.; Lipovetzky J.; Bezerra E.A.
2018Reliability-Performance Analysis of Hardware and Software Co-Designs in SRAM-Based APSoCsTambara L.A.; Kastensmidt F.L.; Rech P.; Lins F.; Medina N.H.; Added N.; Aguiar V.A.P.; Silveira M.A.G.