Influence of temperature on the operation of strained triple-gate FinFETs
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Tipo de produção
Artigo de evento
Data
2008-10-09
Autores
Marcelo Antonio Pavanello
MARTINO, J. A.
SIMOEN, E.
ROOYACKERS, R.
COLLAERT, N.
CLAEYS, C.
MARTINO, J. A.
SIMOEN, E.
ROOYACKERS, R.
COLLAERT, N.
CLAEYS, C.
Orientador
Periódico
Proceedings - IEEE International SOI Conference
Título da Revista
ISSN da Revista
Título de Volume
Citação
PAVANELLO, M. A.; MARTINO, J. A.; SIMOEN, E.; ROOYACKERS, R.; COLLAERT, N.; CLAEYS, C. Influence of temperature on the operation of strained triple-gate FinFETs. Proceedings - IEEE International SOI Conference, p. 55-56, 2008.