Estudo do efeito de redução de barreira induzida pelo dreno em temperaturas criogênicas para transistores SOI ultra-submicrométricos
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Tipo de produção
Dissertação
Data de publicação
2009
Periódico
Editor
Centro Universitário da FEI, São Bernardo do Campo
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Autores
Silva Júnior, J. M.
Orientadores
Pavanello, M. A.
Resumo
Citação
SILVA JÚNIOR, J. M. Estudo do efeito de redução de barreira induzida pelo dreno em temperaturas criogênicas para transistores SOI ultra-submicrométricos. 2009. 96 f. Dissertação (Mestrado em Engenharia Elétrica) - Centro Universitário da FEI, São Bernardo do Campo, 2009
Palavras-chave
Baixas temperaturas; Tecnologia de silício sobre isolante