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Estudo do efeito de redução de barreira induzida pelo dreno em temperaturas criogênicas para transistores SOI ultra-submicrométricos

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Tipo de produção

Dissertação

Data de publicação

2009

Periódico

Editor

Centro Universitário da FEI, São Bernardo do Campo

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Autores

Silva Júnior, J. M.

Orientadores

Pavanello, M. A.

Resumo

Citação

SILVA JÚNIOR, J. M. Estudo do efeito de redução de barreira induzida pelo dreno em temperaturas criogênicas para transistores SOI ultra-submicrométricos. 2009. 96 f. Dissertação (Mestrado em Engenharia Elétrica) - Centro Universitário da FEI, São Bernardo do Campo, 2009

Palavras-chave

Baixas temperaturas; Tecnologia de silício sobre isolante

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