Saturation threshold voltage degradation in deep-submicrometer fully depleted SOI nMOSFETs operating in cryogenic environments
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Tipo de produção
Artigo de evento
Data
2005-10-03
Autores
Marcelo Antonio Pavanello
MARTINO, J. A.
SIMOEN, E.
CLAEYS, C.
MARTINO, J. A.
SIMOEN, E.
CLAEYS, C.
Orientador
Periódico
Proceedings - IEEE International SOI Conference
Título da Revista
ISSN da Revista
Título de Volume
Citação
PAVANELLO, M. A.; MARTINO, J. A.; SIMOEN, E.; CLAEYS, C. Saturation threshold voltage degradation in deep-submicrometer fully depleted SOI nMOSFETs operating in cryogenic environments. Proceedings - IEEE International SOI Conference, v. 2005, p. 72-73, October, 2005.