X-ray-induced upsets in a Xilinx spartan 3E FPGA
Nenhuma Miniatura disponível
Citações na Scopus
3
Tipo de produção
Artigo de evento
Data
2015-12-24
Autores
Marcilei Aparecida Guazzelli
Roberto Santos
LEITE, F. G. H.
ARAÚJO, N. E.
MEDINA, N. H.
PORCHER, B. C.
AGUIAR, V. A P.
ADDED, N.
VARGAS. F.
Roberto Santos
LEITE, F. G. H.
ARAÚJO, N. E.
MEDINA, N. H.
PORCHER, B. C.
AGUIAR, V. A P.
ADDED, N.
VARGAS. F.
Orientador
Periódico
Proceedings of the European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems, RADECS
Título da Revista
ISSN da Revista
Título de Volume
Citação
GUAZZELLI, M. A.; SANTOS, R.; LEITE, F. G. H.; ARAÚJO, N. E.; MEDINA, N. H.; PORCHER, B. C.; AGUIAR, V. A P.; ADDED, N.;VARGAS. F. X-ray-induced upsets in a Xilinx spartan 3E FPGA.Proceedings of the European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems, RADECS, dec. 2015.
Texto completo (DOI)
Palavras-chave
Resumo
© 2015 IEEE.As the use of Field Programmable Gate Arrays (FPGAs) in space and in other strategic areas increases, concerns about their tolerance to radiation also increases. This work reports the observation of soft and hard errors in a Xilinx Spartan-3E commercial off-The-shelf FPGA when exposed to low-dose rate, low energy X-rays during a dynamic test in which a LEON 3 soft-core processor was mapped in the FPGA.