Fin shape influence on the analog performance of standard and strained MuGFETs
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Tipo de produção
Artigo de evento
Data de publicação
2010-10-14
Texto completo (DOI)
Periódico
Proceedings - IEEE International SOI Conference
Editor
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10
Autores
BÜHLER, Rudolf Theoderich
MARTINO, J. A
AGOPIAN, P. G. D.
Renato Giacomini
SIMOEN, E.
CLAEYS, C.
Orientadores
Resumo
Citação
BÜHLER, R. T.; MARTINO, J. A; AGOPIAN, P. G. D.; GIACOMINI, R.; SIMOEN, E.; CLAEYS, C. Fin shape influence on the analog performance of standard and strained MuGFETs. Proceedings - IEEE International SOI Conference, Oct. 2010.