Fin shape influence on the analog performance of standard and strained MuGFETs
Nenhuma Miniatura disponível
Citações na Scopus
10
Tipo de produção
Artigo de evento
Data
2010-10-14
Autores
BÜHLER, Rudolf Theoderich
MARTINO, J. A
AGOPIAN, P. G. D.
Renato Giacomini
SIMOEN, E.
CLAEYS, C.
MARTINO, J. A
AGOPIAN, P. G. D.
Renato Giacomini
SIMOEN, E.
CLAEYS, C.
Orientador
Periódico
Proceedings - IEEE International SOI Conference
Título da Revista
ISSN da Revista
Título de Volume
Citação
BÜHLER, R. T.; MARTINO, J. A; AGOPIAN, P. G. D.; GIACOMINI, R.; SIMOEN, E.; CLAEYS, C. Fin shape influence on the analog performance of standard and strained MuGFETs. Proceedings - IEEE International SOI Conference, Oct. 2010.