Estudo do comportamento das correntes de fuga do dreno do Diamante SOI nMOSFET em altas temperaturas

Bellodi, MarcelloCarvalho, Daniel Belo de2019-03-212019-03-212012CARVALHO, Daniel Belo de. <b> Estudo do comportamento das correntes de fuga do dreno do Diamante SOI nMOSFET em altas temperaturas. </b> 2012. 119 f. Dissertação (Mestrado em Engenharia Elétrica) - Centro Universitário da FEI, São Bernardo do Campo, 2012 Disponível em: <http://sofia.fei.edu.br/tede/tde_busca/arquivo.php?codArquivo=274>. Acesso em: 30 out. 2012.https://repositorio.fei.edu.br/handle/FEI/662pt-BRTransistor de efeito de campo de metal-óxido semicondutorEstudo do comportamento das correntes de fuga do dreno do Diamante SOI nMOSFET em altas temperaturasDissertação