Gimenez, S. P.Silva, A. L.2019-03-212019-03-212010https://repositorio.fei.edu.br/handle/FEI/660pt-BRMétodos de simulaçãoTransistor de efeito de campo de metal-óxido semicondutorEstudo comparativo do comportamento elétrico entre o wave SOI nMOSFET e o convencionalDissertação