DE SOUZA FINO, LEONARDO NAVARENHOGimenez, S. P.RENAUX, C.FLANDRE, DENISGUAZZELLI DA SILVEIRA, MARCILEI APARECIDA2019-08-192019-08-192015DE SOUZA FINO, LEONARDO NAVARENHO; Gimenez, S. P.; RENAUX, C.; FLANDRE, DENIS; GUAZZELLI DA SILVEIRA, MARCILEI APARECIDA. The Influence of Back Gate Bias on the OCTO SOI MOSFET?s Response to X-ray Radiation. JICS. Journal of Integrated Circuits and Systems (Ed. Português), v. 10, n. 1, p. 43, 2015.1807-1953https://repositorio.fei.edu.br/handle/FEI/1463Acesso RestritoArtigo