FINO, L. N. S.Marcilei Aparecida Guazzelli da SilveiraChristian RenauxFLANDRE, DenisGIMENEZ, S. P.2019-08-192019-08-192015FINO, L. N. S.; Marcilei Aparecida Guazzelli da Silveira; Christian Renaux; FLANDRE, Denis; GIMENEZ, S. P.. The Influence of Back Gate Bias on the OCTO SOI MOSFET?s Response to X-ray Radiation. JICS. Journal of Integrated Circuits and Systems (Ed. Português), v. 10, n. 1, p. 43-48, 2015.1807-1953https://repositorio.fei.edu.br/handle/FEI/1305Acesso RestritoArtigo