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2015
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Artigo
The Influence of Back Gate Bias on the OCTO SOI MOSFET?s Response to X-ray Radiation
(
2015
)
FINO, L. N. S.
;
Marcilei Aparecida Guazzelli da Silveira
;
Christian Renaux
;
FLANDRE, Denis
;
GIMENEZ, S. P.
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