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https://repositorio.fei.edu.br/handle/FEI/3453
Title: | Extração de parâmetros da tecnologia SOI através de capacitores |
Authors: | Victor Sonnenberg NICOLETT, APARECIDO SIRLEY MARTINO, JOÃO ANTONIO |
Issue Date: | 5-Jan-2005 |
Abstract: | Neste trabalho serão apresentadas as curvas características de Capacitores SOI-MOS e métodos de extração de parâmetros de processo e elétricos a partir destas curvas. Os métodos são testados e validados por simulações bidimensionais numéricas e aplicados experimentalmente, obtendo-se valores esperados para a tecnologia utilizad. |
Journal: | Boletim Técnico da Faculdade de Tecnologia de São Paulo |
Citation: | SONNENBERG, V.; NICOLETT, A. S.; MARTINO, J. A. Extração de parâmetros da tecnologia SOI através de capacitores. Boletim Técnico da Faculdade de Tecnologia de São Paulo, v. BT-18, p. 05-13, 2005. |
Access Type: | Acesso Restrito |
Appears in Collections: | Artigos |
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