SOI Stacked Transistors Tolerance to Single-Event Effects
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Tipo de produção
Artigo
Data de publicação
2019
Autores
PERIN, ANDRE L.
PEREIRA, ARIANNE S. N.
BUHLER, RUDOLF T.
DA SILVEIRA, MARCILEI A. G.
GIACOMINI, RENATO C.
PEREIRA, ARIANNE S. N.
BUHLER, RUDOLF T.
DA SILVEIRA, MARCILEI A. G.
GIACOMINI, RENATO C.
Orientador
Periódico
IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND MATERIALS RELIABILITY
Título da Revista
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Citação
PERIN, ANDRE L.; PEREIRA, ARIANNE S. N.; BUHLER, RUDOLF T.; DA SILVEIRA, MARCILEI A. G.; GIACOMINI, RENATO C.. SOI Stacked Transistors Tolerance to Single-Event Effects. IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND MATERIALS RELIABILITY, v. 1, p. 1-1, 2019.