Repositório do Conhecimento Institucional do Centro Universitário FEI
 

Influence of substrate rotation on the low frequency noise of strained triple-gate MuGFETs

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Tipo de produção

Artigo de evento

Data de publicação

2013-10-10

Texto completo (DOI)

Periódico

2013 IEEE SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference, S3S 2013

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Autores

DE SOUZA, M. A. S.
Rodrido Doria
SIMOEN, E.
MARTINO, J. A.
CLAEYS, C.
Marcelo Antonio Pavanello

Orientadores

Resumo

Citação

DE SOUZA, M. A. S.; DORIA, R.; SIMOEN, E.; MARTINO, J. A.; CLAEYS, C.; PAVANELLO, M. A. Influence of substrate rotation on the low frequency noise of strained triple-gate MuGFETs. 2013 IEEE SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference, S3S 2013, Oct. 2013.

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