Anti-patterns apoiando a documentação dos problemas de usabilidade

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dc.contributor.authorMASIERO, A. A.
dc.contributor.authorLOPES, G.
dc.contributor.authorGONÇALVES, M. H.
dc.contributor.authorAQUINO JUNIOR, Plinio Thomaz
dc.date.accessioned2019-08-17T20:00:30Z
dc.date.available2019-08-17T20:00:30Z
dc.date.issued2008
dc.description.abstractEste artigo descreve uma metodologia para documentação de barreiras encontradas em interfaces. A partir de uma avaliação realizada em qualquer interface é possível documentar estas barreiras utilizando o conceito de anti-patterns, gerando uma base de conhecimento para evitar re-trabalhos futuros e auxiliar no design de interfacespt_BR
dc.description.abstractalternativeThis paper describes a methodology for documentation of barriers found in interfaces. From an evaluation carried out in any interface you can record these barriers using the concept of anti-patterns, creating a knowledge base to avoid future re-work, and assist in designing interfaces.en
dc.description.firstpage189
dc.description.issuenumber62
dc.description.lastpage196
dc.description.volume32
dc.identifier.citationMasiero, A. A.; LOPES, G.; Gonçalves, M. H.; AQUINO JUNIOR, Plinio Thomaz. Anti-patterns apoiando a documentação dos problemas de usabilidade. Hífen (PUCRS. Impresso), v. 32, n. 62, p. 189-196, 2008.
dc.identifier.issn1983-6511
dc.identifier.urihttps://repositorio.fei.edu.br/handle/FEI/1007
dc.identifier.urlhttp://revistaseletronicas.pucrs.br/ojs/index.php/hifen/article/view/4598/3485
dc.relation.ispartofHífen
dc.rightsAcesso Aberto
dc.rights.licenseEste é um artigo publicado em acesso aberto sob uma licença Creative Commons (CC BY 4.0). Fonte: <http://revistaseletronicas.pucrs.br/ojs/index.php/hifen/about/editorialPolicies#openAccessPolicy> Acesso em: 23/10/2019
dc.subjectAnti-patternspt_BR
dc.titleAnti-patterns apoiando a documentação dos problemas de usabilidadept_BR
dc.typeArtigopt_BR
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