Estudo do comportamento das correntes de fuga do dreno do Diamante SOI nMOSFET em altas temperaturas
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Tipo de produção
Dissertação
Data
2012
Autores
Carvalho, Daniel Belo de
Orientador
Bellodi, Marcello
Periódico
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Citação
CARVALHO, Daniel Belo de. Estudo do comportamento das correntes de fuga do dreno do Diamante SOI nMOSFET em altas temperaturas. 2012. 119 f. Dissertação (Mestrado em Engenharia Elétrica) - Centro Universitário da FEI, São Bernardo do Campo, 2012 Disponível em: . Acesso em: 30 out. 2012.
Texto completo (DOI)
Palavras-chave
Transistor de efeito de campo de metal-óxido semicondutor