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Title: Estudo do comportamento das correntes de fuga do dreno do Diamante SOI nMOSFET em altas temperaturas
Authors: Carvalho, Daniel Belo de
Advisor: Bellodi, Marcello
Issue Date: 2012
Keywords: Transistor de efeito de campo de metal-óxido semicondutor
Publisher: Centro Universitário da FEI, São Bernardo do Campo
URI: https://repositorio.fei.edu.br/handle/FEI/662
Appears in Collections:Teses e Dissertações

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