A New Test Environment Approach to SEE Detection in MOSFETs
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Tipo de produção
Artigo
Data de publicação
2015
Autores
Luis Eduardo Seixas
SILVEIRA, M. A. G.; Guazzelli, Marcilei A.
Nilberto Medina
AGUIAR, V.A.P.
Nemitala Added
GIMENEZ, S. P.
SILVEIRA, M. A. G.; Guazzelli, Marcilei A.
Nilberto Medina
AGUIAR, V.A.P.
Nemitala Added
GIMENEZ, S. P.
Orientador
Periódico
Advanced Materials Research (Online)
Título da Revista
ISSN da Revista
Título de Volume
Citação
Luis Eduardo Seixas; SILVEIRA, M. A. G.; Guazzelli, Marcilei A.; Nilberto Medina; AGUIAR, V.A.P.; Nemitala Added; GIMENEZ, S. P.. A New Test Environment Approach to SEE Detection in MOSFETs. Advanced Materials Research (Online), v. 1083, p. 197-201, 2015.