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Title: Estudo do efeito de redução de barreira induzida pelo dreno em temperaturas criogênicas para transistores SOI ultra-submicrométricos
Authors: Silva Júnior, J. M.
Advisor: Pavanello, M. A.
Issue Date: 2009
Keywords: Baixas temperaturas
Tecnologia de silício sobre isolante
Publisher: Centro Universitário da FEI, São Bernardo do Campo
URI: https://repositorio.fei.edu.br/handle/FEI/486
Appears in Collections:Teses e Dissertações

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